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说一说rohs检测仪的工作原理

发布时间:2020-09-02 点击次数:58
 
  rohs检测仪是一种检测rohs的检测仪,原理是利用X射线检测rohs标准规定中的元素的含量。目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪,又分为能量色散型和波长色散型,能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单,现市场上比较常见。
  技术原理:
  放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用,逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时,会放射该原子所固有能量的X射线--特征X射线。
  不同元素特征X射线能量各不相同,依此进行定性分析;再根据特征X射线强度线强度大小,可进行定量分析。
  可用函数关系式表示为:C=f(k1I1,k2I2,k3I3...)式中:Kn(n=1,2,3…)表示第n号元素的待定系数;In(n=1,2,3…)表示第n号元素释放的特征X射线强度,由此可知只要通过标定确定系数Kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。
  分析原理:
  rohs检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:nλ=2dsinaθ(n=1,2,3…)式中,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特征信息。
  能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:Q=KE式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
  待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
  为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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